電子組件振動試驗法

更新時間：2013-01-26

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中國國家標準

編號 3629

CNS 電子組件振動試驗法 類號 C6016

Vibration Testing Procedures for Electronic Components

1、適用范圍：本標準規定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。

2、裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。

（1）振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為25%以下。

（2）振動振幅：規定振動方向之振幅容許差，須為規定值之±15%以內。

（3）與規定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為規定方向之25%以下。

（4）振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應為±2%。

（5）掃描（1）方法：原則是為對數掃描，但平均掃描亦可。

注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規定振動頻率范圍作1次往復之頻率變化。

3、準備

3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標準規定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝后亦不得松動或發生共振，組件標準應規定下列任一種安裝方法。

（1）固定組件本體（有導線之組件，亦同時固定導線）。

（2）僅固定導線。

4、試驗

4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規定。

4．2 初期測定：依組件標準之規定施行，檢查外觀。

4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產生磁導且供試品易受磁場影響時，于組件中應規定其zui大允許值。

4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗）三種。

（1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標準之規定，照下表施行（參照圖）。

振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。

表

振動種類試驗條件	種類A	種類B	種類C
振動頻率范圍	10～55Hz	100～500Hz	10～2000Hz
全振幅或加速度	1．5mm	1．5mm或98m/s²（10G）中較小者	1．5mm或196m/s²（20G）中較小者
掃描之比例	10-55-10Hz 約1分鐘	10-500-10Hz約15分鐘	10-2000-10Hz約20分鐘
掃描方法	對數掃描或平均掃描
試驗時間	6小時

（2）試驗方法Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）：本試驗是于4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與掃描耐久試驗相同。但如由于減小振幅更能檢出振動特性。可減小振幅。

*次修訂：66年4月20日（共2頁）

公布日期修訂日期

62年11月8日經濟部中央標準局印行年月日

CNS3629， C 6016 —2—

在掃描中檢出共振點時，減低規定之掃描程度，必要時可停止掃描。于掃描耐入試驗前后檢出之共振頻率，均應予以記錄。

（3）試驗方法Ⅲ（共振點耐久試驗）：本試驗是就規定各振動方向之振動頻率，依組件標準之規定，于組件標準規定之振動頻率范圍內作下列時間之試驗。

10分鐘 30分鐘 90分鐘 10小時 10周（cycle）

4．3．2 電負載：組件標準有規定時，于4．3．1（1）、（2）、（3）試驗中，施加電負載。

4．3．3 后處理：原則上不作處后處理，但如有特別需要時，使組件標準之規定。

4．5 zui終測定：依組件標準之規定施行，且檢查外觀。

5、組件標準應規定事項

（1）安裝（安裝用具及安裝方法）（參照3．1節）

（2）前處理條件（有需要時）（參照4．1節）

（3）初期測定項目（參照4．2節）

（4）磁場影響（參照4．3節）

（5） 振動試驗方法種類及試驗條件（參照4．3．1（1）、（2）、（3））

（6）電負載條件（參照4．3．2節）

（7）振動試驗中之測定項目（有需要時）（參照4．3．3節）

（8）后處理條件（有需要時局（參照4．4節）

（9） zui終測定項目（參照4．5節）

（10）其他特別需要事項